產品資料

低電容探頭，P6158、P6150，測試ECL、CMOS和其它邏輯電路上的低壓信號時，需要使用低電容探頭來捕獲**的信號，同時*大限度地減小對被測設備的負載影

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產品名稱: 低電容探頭，P6158、P6150，測試ECL、CMOS和其它邏輯電路上的低壓信號時，需要使用低電容探頭來捕獲**的信號，同時*大限度地減小對被測設備的負載影
產品型號: P6158、P6150
產品展商: 泰克/Tektronix
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

測試ECL、CMOS和其它邏輯電路上的低壓信號時，有一點很重要，那就是需要使用低電容探頭來捕獲**的信號，同時*大限度地減小對被測設備的負載影響。泰克可以提供目前市場上帶寬*高、電容*低的探測解決方案。


低電容探頭，P6158、P6150，測試ECL、CMOS和其它邏輯電路上的低壓信號時，需要使用低電容探頭來捕獲**的信號，同時*大限度地減小對被測設備的負載影  的詳細介紹
產品系列
衰減
*高電壓
帶寬
輸入阻抗
View P6158
P6158
20:1
22 VRMS (DC+pkAC)
3 GHz
要求50 O的輸入阻抗
View P6150
P6150
1X: 1:1
10X: 10:1
12.5 VRMS (DC+pkAC)
(收示波器輸入限制或 42 VRMS)
1X: 3 GHz
10X: 9 GHz
要求50 O的輸入阻抗

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